核工业北京地质研究院分析测试研究中心采购了两台特殊的质谱仪，今年两台设备同时到货、安装，一台是法国CAMECA公司的IMS 1280-HR高分辨二次离子质谱仪，另一台是TESCAN公司的双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统。

　　之所以采购两台二次离子质谱，是因为高分辨质谱仪以*的检出限以及超高的分辨能力和精度著称，但成像及原位分析能力较差;而联用系统是扫描电镜(SEM)、聚焦离子束(FIB)和飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)，三者的结合，具有SEM的二维高分辨成像和成分、结构等分析能力，结合FIB的微区分析与加工能力，实现成分和结构的三维分析;FIB与TOF-SIMS的联用，相比于大型质谱仪具有更高的空间分辨率、更快速的成像速度、更优异的成像能力，同时操作也更简单灵活。

        整套联用系统可同时进行原位超轻元素、同位素分析能力，此外还可以对元素、同位素等进行二维、三维成像分析。

　　TESCAN公司在电子显微镜和聚焦离子束领域有多项创新，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。

　　这是国内首套双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统，TESCAN十分重视和核工业北京地质研究院的合作，研发部的专家专程到北京进行培训，并和中心主任郭冬发研究员、书记范光研究员等专家进行了交流。

　　TESCAN公司表示，他们将继续跟踪双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统的新应用进展，同时也欢迎感兴趣的用户前来参观和交流。

　　本文由伟思实验仪器http://www.chinaweisi.com收集整理，仅供学习参考!